国内外的航空航天测试技术研究进展
航空航天测试经典案例分享
边界扫描在航空航天测试中的最新应用(亮点内容)
边界扫描技术适用于测试复杂集成电路(IC),可完成高密度元器件电路板、元件封装较小电路板、多层PCB 板的电路系统测试。可方便定位电路故障,迅速测试芯片管脚连接的可靠性,从而提高测试效率。边界扫描技术广泛应用于航空航天领域的芯片、系统测试,将大力提升其测试水平。
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时段
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演讲题目
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演讲人
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9:00-9:25
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来宾签到
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9:25-9:30
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主办单位领导致辞
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陈雯海 中国电子器材总公司常务副总经理
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9:30-10:00
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自动化测试系统的现状及发展趋势
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崔建平 中国电子学会电子测量与仪表分会秘书长
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10:00-10:30
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R&S最新毫米波THz器件测试技术
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杨洪文 罗德与施瓦茨(中国)科技有限公司业务发展工程师
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10:30-11:00
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泛华数据采集产品在航空航天测试应用中的经典案例分享
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吴聪 北京泛华恒兴科技有限公司市场主管
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11:00-11:30
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浅析军工自动化测试系统(ATS)发展趋势与技术
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刘旭阳 美国国家仪器公司(NI)市场开发经理
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11:30-12:00
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复杂装备自主式保障系统技术
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陈斐 北京航天测控技术有限公司测试与诊断产品事业部主任
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12:00-12:20
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抽奖
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12:20-13:30
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午餐
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13:30-15:00
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座谈会:
航空航天测控技术发展对自动测试技术需求
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内容:
航空航天测控领域的领军企业与用户面对面交流,
分享航空航天测控技术、自动测试技术的新发展,
以及航空航天测控技术对自动测试技术发展提出的新需求
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15:00-15:30
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抽奖
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15:30-16:30
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参观2014年中国(成都)电子展
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日程以现场为准,组委会保留最终解释权。