国内外的航空航天测试技术研究进展

航空航天测试经典案例分享

边界扫描在航空航天测试中的最新应用(亮点内容)

边界扫描技术适用于测试复杂集成电路(IC),可完成高密度元器件电路板、元件封装较小电路板、多层PCB 板的电路系统测试。可方便定位电路故障,迅速测试芯片管脚连接的可靠性,从而提高测试效率。边界扫描技术广泛应用于航空航天领域的芯片、系统测试,将大力提升其测试水平。

时段

演讲题目

演讲人

9:00-9:25

来宾签到

9:25-9:30

主办单位领导致辞

陈雯海 中国电子器材总公司常务副总经理

9:30-10:00

自动化测试系统的现状及发展趋势

崔建平 中国电子学会电子测量与仪表分会秘书长

10:00-10:30

R&S最新毫米波THz器件测试技术

杨洪文 罗德与施瓦茨(中国)科技有限公司业务发展工程师

10:30-11:00

泛华数据采集产品在航空航天测试应用中的经典案例分享

吴聪 北京泛华恒兴科技有限公司市场主管

11:00-11:30

浅析军工自动化测试系统(ATS)发展趋势与技术

刘旭阳 美国国家仪器公司(NI)市场开发经理

11:30-12:00

复杂装备自主式保障系统技术

陈斐 北京航天测控技术有限公司测试与诊断产品事业部主任

12:00-12:20

抽奖

12:20-13:30

午餐

13:30-15:00

座谈会:

航空航天测控技术发展对自动测试技术需求

内容:

航空航天测控领域的领军企业与用户面对面交流,

分享航空航天测控技术、自动测试技术的新发展,

以及航空航天测控技术对自动测试技术发展提出的新需求

15:00-15:30

抽奖

15:30-16:30

参观2014年中国(成都)电子展




日程以现场为准,组委会保留最终解释权。