首届仪器仪表器件选型技术研讨会
时间：2013年11月13日 下午
地点：上海新国际博览中心W3馆M10会议室
主题：助力“中国创造”的高性能测试仪器
主办单位：《电子产品世界》杂志社、中电会展与信息传播有限公司

现场聆听半导体应用技巧，助理仪器及系统设计工程师实现高性能测试仪器和测试系统。

测试仪器，作为测试技术中最重要的工具，一直是一个看似规模并不庞大，但影响深远的市场。据统计，虽然每年测试仪器的市场只占全球经济总量的万分之二，但是却带动着全球70%以上的经济增长，而对中国产业格局来说，测试仪器一直是电子产业中相对滞后的一环，仪器产业的滞后间接拖累了我国电子产业的高速发展。每个电子设计工程师离不开测试仪器，而测试仪器的设计同样需要广大电子工程师的参与。我们邀请广大电子工程师与我们一起，共同倾听众多半导体厂商最新的产品在电子测试仪器设计中的应用技巧与相关方案，并交流工程师的仪器设计需求，共同寻找最有针对性的设计解决方案

主要议题
　· 模拟前端在测试仪器设计中的重要意义与选型特殊需求
　· ADC的性能对测试仪器信号捕获的价值及选型指导
　· 如何选择最适合的放大器及相关信号处理系统
　· FPGA在测试仪器设计中的优势与应用实例
　· 多个处理器在未来测试仪器中的应用前景及优势分析
　· 传感器在信息和数据采集中的应用选性技巧
　· 信号分析与信号处理技术在不同测试仪器中的应用

目标听众
从事测试设备开发、仪器仪表研发、数据采集及测试系统构建、以及电子测试系统分析等应用的系统设计工程师和设计师。
 
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